Inhalt
Grundlagen der Materialanalyse und Oberflächenverfahren; Überblick über verschiedene Analysemethoden und deren Anwendungen in der Entwicklung, Produktion und Qualitätssicherung; Mikroskopie; optische Spektrometrie; Röntgenanalyse; Elektronenmikroskopie, Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie; Ultraschallverfahren; Massenspektrometrie; Ramanspektrometrie; Laserprinzipien und -anwendungen
Lernergebnisse
Die Studierenden können die wissenschaftlichen Grundlagen verschiedener physikalisch-instrumenteller Verfahren zur Material-, Kristallstruktur- und Oberflächenanalyse verstehen und ihre Anwendung bei unterschiedlichen Fragestellungen evaluieren.Sie können die Möglichkeiten beurteilen, mittels Licht, Elektronen und Ionen Messungen und Materialbearbeitungen durchzuführen.
Literatur
Horst Czichos, Tetsuya Saito, Leslie Smith (Eds.). Springer Handbook of Materials Measurement Methods. Springer, 2006.
Peter W. Hawkes, John C. H. Spence. Science of Microscopy. Springer, 2007.
Jörg Haus. Optische Mikroskopie: Funktionsweise und Kontrastierverfahren. Wiley, 2014.
Dieter Meschede. Optik, Licht und Laser. Vieweg+Teubner, 2008.
Susanne Kühl, Alexander Linnemann. Grundlagen der Licht- und Elektronenmikroskopie. UTB GmbH, 2017.
